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2015-5

絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試系統(tǒng)符合的標(biāo)準(zhǔn)要求

適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗方法》；EN1149-1-1995《防護服靜電性能部分表面電阻檢驗方法和要求》；GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效）；FZ/T64013-2008《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應(yīng)用系統(tǒng)防靜電檢測通用規(guī)范》6.1及ASTMD257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》要求制作。GB/T2439-2001《硫化橡膠或...

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2015-3

硅片電阻率測量方法，四探針方阻儀原理

本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準(zhǔn)確.按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，本機...

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2015-1

粉末電阻率測試儀組成結(jié)構(gòu)功能說明

粉末電阻率測試儀是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測試需要,參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的。粉末電阻率測試儀適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。儀器直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強，更方便于用戶，而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末進行電阻、電阻率多用途的測量。適用于有機、無機粉末材料(包括納米級)的電阻率測量，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測...

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2014-12

超細粉體的粉體特性和表面特征

超細粉體的性能與普通的顆粒是有很大的不同的。但顆粒的尺度但到亞微米級尤其是納微米級時，其表面的原子排列和電子分布結(jié)構(gòu)及晶體結(jié)構(gòu)較之普通顆粒均有明顯變化，產(chǎn)生了有別于普通顆粒的表面效應(yīng)、小尺寸效應(yīng)、量子效應(yīng)和量子隧道效應(yīng)，因此，在某些特殊場合會具有優(yōu)異的物理、化學(xué)及表面與界面性質(zhì)。當(dāng)顆粒尺寸處于微米級時，雖然去物理化學(xué)性能與普通顆粒的物理化學(xué)性質(zhì)相差不大，但微米級顆粒的比表面積大、表面能高，表面與界面性質(zhì)發(fā)生了很大的變化。如果現(xiàn)貨單一的微米級的超細粉的物理化學(xué)性能與普通顆粒相差...

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2014-12

接觸壓降測試儀如何檢測電能計量誤差

接觸壓降測試儀為測試產(chǎn)品提供恒定不變的測量電流，提高測量精度，保證了產(chǎn)品質(zhì)量。該儀器還具有上限電壓降參數(shù)設(shè)置，聲光報警功能。外形美觀大方，顯示清淅直觀，可靠性好等優(yōu)點。專業(yè)用于測試各種開關(guān)、繼電器、接觸器、接線座、接線連接器等接觸點兩端間的實際工作電壓降。是科研單位、計量測試部門、生產(chǎn)企業(yè)等單位的*儀器。由于電能計量綜合誤差過大是電能計量中普遍存在的一個關(guān)鍵問題，電能計量綜合誤差是由電壓互感器的合成誤差、電流互感器的合成誤差、電度表的誤差、電壓互感器二次導(dǎo)線壓降所引起的計量誤...

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2014-12

顆粒表觀密度測定儀的配置及適用范圍

顆粒表觀密度測定儀主要用于從規(guī)定的漏斗中流出松散物料的表觀密度測定,是化工行業(yè)原料進廠質(zhì)量檢驗等理想的測試儀器。表觀密度測定儀適用于聚氯乙烯樹脂原料從大于100mL±0.5mL的漏斗中流出塑料松散物，當(dāng)松散塑料流100mL±0.5mL的標(biāo)準(zhǔn)容器中后，再用直尺刮去標(biāo)準(zhǔn)容器上的多余試樣，然后用天平稱其重量，用下式進行計算ρ=M—m/V,得出表觀密度值，該儀器是化工行業(yè)以及塑料原料質(zhì)量檢驗的測試儀器。表觀密度測定儀*符合標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，具有體積小、設(shè)計合理、...

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2014-12

粉末振實密度儀的性質(zhì)和功能簡介

可壓縮系數(shù)和Hausner比是反映粉末振實密度儀被壓縮時的性質(zhì)，同時也反映了顆粒間的相互作用。流動性差的振實密度儀，顆粒間的相互作用比較明顯，堆積密度和振實密度測得值差異比較大。這些差別反映在振實密度儀的可壓縮系數(shù)和Hausner比。流動性好的振實密度儀，顆粒間的相互作用不明顯，堆積密度和拍填密度值比較接近。這樣的比較經(jīng)常用來作為振實密度儀流動的能力指標(biāo)，例如下文中所述的可壓縮性系數(shù)或豪斯納比。因為粒子間相互作用影響振實密度儀膨脹系數(shù)同時也會干擾振實密度儀的流動，在給定粉末振...

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2014-11

四探針電阻率測試儀的配置特點和技術(shù)參數(shù)

四探針電阻率/方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份測試架及四探針頭組成。本儀器的特點是主機配置雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時，另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩(wěn)定。本機配有恒流源開關(guān)，在測量某些箔層材料時，可免除探...

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