方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。
方塊電阻的計(jì)算方法：
方塊電阻：Rs=ρ/t(其中ρ為塊材的電阻率,t為塊材厚度）
或者寫成電導(dǎo)率的表達(dá)式：Rs = 1/(σt)
這樣 在計(jì)算塊材電阻的時(shí)候，我們就可以利用方塊電阻乘以長寬比例得到，計(jì)算過程與維度無關(guān)：
R=Rs*L/W(L為塊材長度，W為塊材寬度）
方塊電阻測試儀是用來測量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、 ITO 導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。大顯示屏，直觀度數(shù)，穩(wěn)定性好，可以外接其他控制單元，與其他系統(tǒng)集成使用；適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜等。
